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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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WLI Lab 白光干涉仪
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计,可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪F54-XY-200
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芯硅谷 数显测厚表
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WLI LA 白光干涉仪
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择
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德国BMT WLI白光干涉仪
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场的
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统 用于半导体元件的研发计量
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统 热点快速调查
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统
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